半导体器件高低温试验箱具有自动演算的功能，可将温湿度变化条件立即修正，使温湿度控制更为准确稳定，控制器操作界面设中英文可供选择，实时运转曲线图可由屏幕显示，具有100组程式、每组100段、每段可循环999步骤的容量，每段时间设定大值为99小时59分，资料及试验条件输入后，控制器具有荧屏锁定功能，避免人为触摸而停机，具有RS-232或RS-485通讯界面，可在电脑上设计程式，监视试验过程并执行自动开关机、数据等功能控制器。

半导体器件高低温试验箱技术指标：

型 号     工作室尺寸（mm）  外箱尺寸（mm）

HL-80     400*500*400     950*1650*950

HL-150    500*600*500    1050*1750*1050

HL-225    600*750*500    1200*1900*1150

HL-408    600*800*850    1200*1950*1350

HL-800    1000*1000*800  1600*2000*1450

HL-1000   1000*1000*1000  1600*2100*1450

1、温度范围:A型:25℃～150℃；B型:0℃～150℃；C型:-20℃～150℃；D型:-40℃～150℃；E型:-60℃～150℃；F型:-70℃～150℃

2、RT———>150℃约3度/分钟

3、RT———>-20℃约1度/分钟

4、显示精度：温度：0、1℃

5、偏差：温度：±2、0℃

6、均匀度：温度：±2、0℃

7、波动度：温度：±0、5℃

半导体器件高低温试验箱箱体结构：

1．箱体采用数控机床加工成型，造型美观大方，并采用无反作用把手，操作简便。

2．箱体内胆采用进口不锈钢（SUS304）镜面板，箱体外胆采用A3钢板喷塑，增加了外观质感和洁净度。

3．大型观测视窗附照明灯保持箱内明亮，且利用发热体内嵌式钢化玻璃，随时清晰的观测箱内状况。

4．配直径50mm的测试孔，可供外接测试电源线或信号线使用

半导体器件高低温试验箱控制系统：

1．温度范围：0℃-150℃   -20℃-150℃  -40℃-150℃  -60℃-150℃   -70℃-150℃也可按客户需要定制非标试验箱

2．温湿度显示控制仪表采用（进口）荧幕操作简单，无须按键输入，精度：0.1℃(显示范围)，解析度：±0.1℃；

半导体器件高低温试验箱系统：

1．采用多翼式送风机强力送风循环，避免任何死角，可使测试区域内温度分布均匀。

2．风路循环出风回风设计，风压、风速均符合测试标准，并可使开门瞬间温度回稳时间快。

3．升温、降温、系统完全独立可提高 效率，降低测试成本，增长寿命，减低故障率。

4．整体设备超温；整体设备欠相/逆相；整体设备过载；制冷机组超压；整体设备定时；

5．其它还有漏电、运行指示，故障报警后自动停机等保护。

6．具有荧屏自动屏保功能，在运转或设定中，如发生错误时，会提供警示迅号。

7．制冷机采用法国原装“泰康”全封闭压缩机。

8．干燥过滤器、冷媒流量视窗、修理阀、油分离器、电磁阀、贮液筒均采用进口原装件

9．冷冻系统采用单元或二元式低温回路系统设计。

半导体器件高低温试验箱用途：

半导体器件高低温试验箱 壹叁伍 叁捌肆陆 玖零柒陆 又名高低温老化试验箱适用于电工、电子、仪器仪表及其它产品、零部件及材料在复杂的高、低温湿热环境下贮存、运输、使用时复杂的高低温湿热变化适应性试验。